टंगस्टन रॉड
रासायनिक रचना:
| मुख्य आणि किरकोळ घटक | Min.content(%) | ASTM B760 |
| W | ९९.९५ | शिल्लक |
| अशुद्धी | कमाल मूल्ये (μg/g) | कमाल मूल्ये (μg/g) |
| Al | 15 | - |
| Cu | 10 | - |
| Cr | 20 | - |
| Fe | 30 | 100 |
| K | 10 | - |
| Ni | 20 | 100 |
| Si | 20 | 100 |
| Mo | 100 | - |
| C | 30 | 100 |
| H | 5 | - |
| N | 5 | 100 |
| O | 20 | 100 |
| Cd | 5 | - |
| Hg | 1 | - |
| Pb | 5 | - |
व्यास आणि सहिष्णुता:
| व्यास (मिमी) | सहिष्णुता | |||
| सरळ केले | बनावट | वळले | ग्राउंड | |
| 0.50-0.99 | - | - | ±0.007 | |
| 1.00-1.99 | - | - | ±0.010 | |
| 2.00-2.99 | ±2.0 % | - | ±0.015 | |
| ३.००-१५.९ | - | - | ±०.०२० | |
| १६.०-२४.९ | - | ±0.30 | ±0.030 | |
| २५.०-३४.९ | - | ±0.40 | ±0.050 | |
| 35.0-39.9 | - | ±0.40 | ±0.30 | ±0.060 |
| 40.0-49.9 | - | ±0.40 | ±0.30 | ±0.20 |
| ५०.०-९०.० | - | ±1.00 | ±0.40 | - |
लांबी आणि सरळपणा:
| व्यास (मिमी) | उत्पादन लांबी (मिमी) | सरळपणा/मीटर (मिमी) | |
| साफ केले | ग्राउंड/वळले | ||
| 0.50-10.0 | ≥५०० | 2.5 | 2.5 |
| 10.1-50.0 | ≥३०० | 2.0 | ~१.५ |
| ५०.१-९०.० | ≥१०० | 2.0 | ~१.५ |
लांबी सहिष्णुता:
| व्यास 0.50-30.0 मिमी | ||||||
| नाममात्र लांबी (मिमी) | ≥१५ | 15-120 | 120-400 | 400-1000 | 1000-2000 | 2000 |
| लांबी सहिष्णुता (मिमी) | ±0.2 | ±0.3 | ±0.5 | ±2.0 | ±3.0 | ±4.0 |
| व्यास ＞30.0 मिमी | ||||||
| नाममात्र लांबी (मिमी) | ≥३० | 30-120 | 120-400 | 400-1000 | 1000-2000 | 2000 |
| लांबी सहिष्णुता (मिमी) | ±0.5 | ±0.8 | ±1.2 | ±4.0 | ±6.0 | ±8.0 |
घनता: ≥19.1g/cm³
नॉनडिस्ट्रक्टिव्ह टेस्टिंग: व्यासांसाठी＞15.00 मिमी: 100% अल्ट्रासोनिक चाचणी.0.50-50.0 मिमी व्यासासाठी: जमिनीच्या पृष्ठभागासह रॉडवर एडी करंट चाचण्या करा.
| व्यास(मिमी) | कडकपणा (HV 10) |
| ०.५०-२.९९ | - |
| ३.००-९.९९ | ४२०-५०० |
| 10.0-29.9 | ४२०-४८० |
| ३०.०-४९.९ | 380-460 |
| ≥५० | 350 |
पृष्ठभागाची स्थिती:
| व्यास (मिमी) | पृष्ठभागाची स्थिती |
| 0.50-90.0 | रासायनिक साफ केले |
| ≥४०.० | Ra ≤3.2μm वळले |
| 0.50-30 | केंद्रहीन जमीन Ra≤1.0μm |
| ≥४०.० | - केंद्रहीन जमीन Ra≤1.2μm |
तुमचा संदेश इथे लिहा आणि आम्हाला पाठवा
